RU

Беттік изотоптық, химиялық және құрылымдық талдау

  • Пәннің мақсаты: үлгіні иондармен, ұшқын разрядымен, лазерлік сәулемен бүрку арқылы материалдардың үстіңгі бетін талдау әдістерін меңгерудің кәсіби құзыреттілігін қалыптастыру Курсты оқу барысында магистрант төмендегідей білімдерді меңгереді: 1. материалдардың беткі аймағын талдау әдістерінің негізінде жатқан Физикалық процестерді меңгеру: электрондық құрылымның ішкі қабықтарында бос орын пайда болуы (рентгендік фотоэлектронды спектроскопия) және энергетикалық деңгейлер арасындағы өту (электрондық микроанализ және электрондық оже-спектроскопия) 2. үстіңгі қабаттың жергілікті құрамын, құрылымын және физикалық-химиялық қасиеттерін талдаудың заманауи әдістерін ажырату, 3. беттік изотопты, химиялық және құрылымдық талдауды қамтамасыз ететін эксперименттік техниканы қолдану; 4. беттік қабаттар мен жұқа пленкалардың қасиеттеріне, оларды алу, зерттеу және модификациялау тәсілдеріне бағдарлау 5. Қатты денені талдау саласында шешім қабылдаудың базалық дағдыларын; қатты дененің және жұқа пленкалардың бетінің изотоптық және химиялық құрамын зерттеу үшін масс-спектроскопия әдістерін, әдістерін, термо-десорбциялық масс-спектрометрияны меңгеру. Пәнді оқу нәтижесінде магистранттар төмендегі мәселелерді қарастырады: Беттік диагностикасының эксперименталды ерекшеліктері. Беттік диагностикалау әдістерінің негізінде жатқан негізгі физикалық құбылыстар. Беттің құрылымы. Аналитикалық қондырғылардың негізгі тораптары. Эксперимент жағдайларына қойылатын талаптар. Электрондық спектроскопия әдістерінің негіздері. Иондық спектроскопия әдістерінің негіздері. Ионды тозаңдану механиздерінің жіктелуі. Сызықты каскадтық ыдырау теориясының элементтері. Ионды бүрку модельдері. Жылу шыңдары. Толқындар. Ион түзілу механизмдерінің жіктелуі. Ион түзілудің модельдері.
  • Образовательная программа 7M05306 Техникалық физика
  • ВУЗ әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университеті
  • Несиелер 3
  • Селективті тәртіп
  • Оқу жылы 2
  • Семестр 3
Top