RU

Микроэлектрондық компоненттер мен құрылғылардың қасиеттерін импеданстық спектроскопия көмегімен тексеру.

  • Негіздері кедергі. Өлшеу негіздері импеданс. Корреляция арасындағы ток күші мен кернеуді айнымалы тоқ тізбектерінде - температура мен факторлардың тәуелділіктердің компоненттері. AC сипаттамалары диодтар мен транзисторлардың және басқа да жартылай өткізгіш компоненттер. Талдау нанослоя арналған жартылай өткізгіштердегі.
  • Образовательная программа 6B07104 Автоматтандыру және басқару
  • ВУЗ Семей қаласының Шәкәрім атындағы университеті
  • Несиелер 5
  • Селективті тәртіп
  • Оқу жылы 2
  • Семестр 2
Top