Проверка свойств микроэлектронных компонентов и устройств с помощью импедансной спектроскопии.

  • Основы теории сопротивления. Основы измерения импеданса. Корреляция между силой тока и напряжения в цепях переменного тока - температуры и факторов зависимостей компонентов. AC характеристики диодов и транзисторов и других полупроводниковых компонентов. Анализ нанослоя на полупроводниках.
  • Образовательная программа 6B07104 Автоматизация и управление
  • Кредитов 5
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 2
Top