Методы анализа поверхности

  • Цель дисциплины: изучение методов анализа поверхности при взаимодействии различных излучений (электронных, ионных, электромагнитных и др.) с материалами. В ходе изучения курса будут сформированы способности у магистрантов: 1. Понимать физические основы методов анализа материалов, их классификацию, технику и принципы их работы; 2. объяснить взаимодействие электромагнитных волн и различных видов излучения (электронов, ионов и т.д.) с веществом; 3. проводить количественный и качественный состав материалов; 4. анализировать микроструктуру, химический состав и оптические свойства веществ; 5. использовать современные методы и методики анализа. При изучении дисциплины магистранты будут изучать следующие аспекты: классификация методов анализа поверхности; методы ионной спектроскопии; методы ядерного анализа; атомно-абсорбционная спектроскопия; ИК спектроскопия; УФ-спектроскопия; Рамановская спектроскопия; Методы рентгеновской спектроскопии; Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; электронная сканирующая микроскопия
  • Образовательная программа 7M05307 Техническая физика (КTU)
  • Кредитов 5
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 3
Top