Сканирующая зондовая микроскопия

  • Цель дисциплины: формирование навыков планирования эксперимента, выбора оптимальных методик, реализуемых с помощью сканирующих зондовых микроскопов, определения необходимых условий экспериментов и оптимального метода обработки полученных результатов. В результате изучения дисциплины магистрант будет способен: 1. объяснять фундаментальные основы методов сканирующей зондовой микроскопии; 2. проводить анализ свойств водорода в металлах и сплавах с использованием средств технологического оснащения, автоматизации и диагностики производств, современных информационных технологий; 3. использовать физико-математические методы изотопного химического и структурного анализа поверхности; 4. владеть методами сканирующей зондовой микроскопии в металлах и сплавах; 5. использовать творческий подход для исследования дефектов в твердых телах при решении задач проектирования объектов новой техники, эксплуатации, разработки технологических процессов. При изучении дисциплины магистранты будут изучать следующие аспекты: Физические основы сканирующей зондовой микроскопии. Принцип и основные режимы работы сканирующего туннельного микроскопа. Сканирующая туннельная спектроскопия. Принцип и основные режимы работы атомно-силового микроскопа (АСМ). Силы взаимодействия в твердых телах. Ван дер Ваальсовы силы, электростатическое и капиллярное взаимодействие. Методы регистрации изгиба и параметров колебаний зонда. Режимы работы АСМ. Латеральный силовой микроскоп. Методики, реализуемые в сканирующей зондовой микроскопии. Электростатическая силовая микроскопия. Сканирующая емкостная спектроскопия. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны. Микротермальный анализ. Силовая модуляционная спектроскопия. Микроскопия фазового детектирования.
  • Образовательная программа 7M05306 Техническая физика (ТПУ)
  • Кредитов 3
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 3
Top