Методы сканирующей микроскопии

  • Цель: формирование знаний и умений физических основ и методов сканирующей зондовой микроскопии. Курс направлен на изучение вопросов применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Рассматриваются следующие виды сканирующей зондовой микроскопии: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитносиловая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).
  • Образовательная программа 7M05302 Физика
  • Кредитов 4
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 1
Top