KZ

Применение методов рентгеновской дифракции в исследованиях тонких пленок и приповерхностных слоев твердых тел

  • Дисциплина предназначена для изучения магистрантами принципов применения методов рентгеновской дифракции в исследованиях тонких пленок и приповерхностных слоев твердых тел. Будут даны понятия индексов Миллера, параметров решетки, межплоскостных расстояний, методы расчета размеров нанокристаллов, а также крупных кристаллитов. Целью курса является ознакомление магистрантов с теоретическими и практическими аспектами рентгеновской дифракции, а также развитие навыков анализа и интерпретации экспериментальных данных.Задачами курса является изучение принципов рентгеновской дифракции, освоение методов измерения и анализа дифракционных данных, а также применение этих методов для исследования структуры и свойств тонких пленок и приповерхностных слоев твердых тел.
  • Образовательная программа 7M07108 Наноматериалы и нанотехнологии (по областям применения)
  • ВУЗ Казахстанско-Британский технический университет
  • Кредитов 5
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 1
  • Семестр 2
Top