Спектроскопические методы анализа материалов

  • Целью данной дисциплины является освоение методов спектроскопического анализа материалов: люминесцентная спектроскопия, абсорбционная и отражательная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия (ЭОС), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС), вторичная ионная масс-спетрометрия (ВИМС), сканирующая ионная микроскопия (СИМ).
  • Образовательная программа 7M07140 Наноматериалы и нанотехнологии
  • Кредитов 6
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 1
Top