Атомно-силовая микроскопия

  • Дисциплина изучает эволюцию сканирующих зондовых микроскопов, сканирующие элементы, методы сканирующей зондовой микроскопии, возможности зондового микроскопа при применении вольфрамовых иголок в качестве зондов, контиливеров, методы анализа полученных изображений поверхности; по результатам изучения дисциплины обучающийся способен приобретает знания по техническим особенностям СЗМ, программным приложениям для идентификации данных СЗМ.
  • Образовательная программа 7M05304 Физика и физическая экспертиза
  • Кредитов 5
  • Селективная дисциплина
  • Год обучения 2
  • Семестр 1
Top